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* 장비 예약 가능 시간은 평일 9:00 ~ 17:00 입니다. (공동기기원 홈페이지에서 일정 확인)
- 장비 예약은 성균관대학교 공동기기원(https://ccrf.skku.edu/) 회원가입 및 로그인을 통한 예약을 진행해 주시기 바랍니다. - 공동기기원 홈페이지 예약 시 >> 기기 구분 : 양자기술첨단기기센터, 분석실 : 양자기술첨단기기센터 분석실 선택 - 장비 예약 시 담당자와 사전 상담 후 예약주시기 바랍니다. (연락처 : 031-299-4087, 통화가능시간 : 17:00~18:00) - 문의 사항은 메일 부탁드립니다. (E-mail : hwpark31@skku.edu)
** 예약 당일 취소 시 분석 비용을 100% 청구합니다.
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The JEOL JEM-ARM200CF is a high-performance TEM with a cold-field emittion gun(CFEG) type and two spherical aberration correctors(condensor/objective lens). This Equipment can precisely observe the microstructure of materials down to sub-nm scale for analysis at the atomic level in materials science and nanotechnology. At the same time as observing the microscope image, you can analyze the chemical composition by using the Energy-dispersive X-ray spectroscopy(EDS) and Electron energy-loss spectroscopy(EELS).
◎ Main body
- Cold FEG & double Cs correctors (Probe+Image)
- 5th order correction (STEM, ASCOR)
- Accerlerating voltage : 30, 60, 80, 200 kV
- TEM resolution
- point image : 0.10 nm, - lattice image : 0.07 nm, - information limit : 0.10 nm
- STEM resolution
- BF lattice image : 0.136 nm, - DF lattice image : 0.078 nm
- Magnification
- TEM : x8,000 to 2,000,000, - STEM : x20,000 to 150,000,000
- Specimen shift
- X, Y : 2mm, Z : ±0.1 mm
- Tilt angle(X/Y) : ± 25º, ± 25º
◎ Option
- Gatan One view CCD camera
- Double SSD(100 mm2) EDS detector
- Quantum ER(965), Ultrafast Dual EELS
- JEOL STEM detector(BF/ABF/MAADF/HAADF)
◎ Microstructure imaging
- TEM (Bright field, Dark field, HR-TEM) & Electron Diffaction
- STEM (Annular dark field, Bright field, HR-STEM)
◎ Chemical compostion analysis
- EDS(Energy Dispersive x-ray Spectroscopy)
- EELS(Electron Energy Loss Spectroscopy)